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March 28, 2025
在半導體製造領域,視覺檢測是確保產品良率的關鍵環節,隨著製程技術的不斷進步,半導體設備對高效能運算、即時處理能力以及系統靈活性的需求日益增加。半導體製程中的視覺檢測需要處理高解析度影像,並進行即時分析與缺陷檢測,這對系統的運算能力提出了極高要求,尤其是隨著晶圓缺陷尺寸的縮小與檢測精度的提升,傳統的嵌入式系統運算負擔進一步加重,往往難以滿足。半導體設備通常需要長期運行,然而技術的快速發展可能使硬體迅速過時。若需更換運算模組,傳統嵌入式系統往往需要整個系統更換,難以滿足未來升級的需求。 瑞傳PCOM-BA0x系列以其卓越的靈活性與擴展性,成為半導體設備與視覺檢測應用的理想選擇 COM Express模組的核心優勢在於其模組化設計,將運算核心與 I/O 介面分離,使系統具備極高的靈活性與擴展性。在半導體設備中,視覺檢測系統...